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电子产品寿命短?HAST老化试验做了吗?

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浏览:- 发布日期:2019-11-12 17:02:52【

双十一大站刚刚撤下帷幕,每年的双十一大站中,电子产品无疑是竞争最火热的一个站场。各路厂商也都卯足了劲火力全开,手机,笔记本,平板电脑等市场的需求越来越大,消费者对产品的性能,外观方面有着越来越高的要求。而相应的生产厂商们也面临着更严峻的考验。小到主板芯片,LCD显示屏,都需要经过千百道严苛的试验。

作为电子产品中最重要的组成部分之一,芯片的测试工作无疑是最为严苛的一道工序,我们都知道,电子产品的寿命,很大程度取决于芯片的性能。故,对芯片的可靠性测试,也是一项必不可少的工作。产品一直在运行,其芯片、模块也一直在升温,随着时间的推移,长期这样的环境,对电子产品的使用寿命有着重要的影响。因此,芯片的加速老化实验,变得愈加重要。

HAST是一种试验,用提高环境应力(如温度、湿度、压力)的方式,加速产品(主要为芯片)老化,缩短测试周期,用来评定PCB压合和绝缘电阻,与相关材料的吸湿效果状况,以评估固态组件的可靠性。HAST 通常会在 130 摄氏度、85% 相对湿度条件和高气压条件下,对器件进行至少 96 小时的测试。

因此,芯片设计公司,都会在芯片出厂前,通过HAST老化测试,来验证产品的可靠性。从而筛选性能更好的良片投放市场。


了满足芯片设计公司芯片测试老化的需求,深圳市鸿怡电子有限公司,18年来致力于各种封装芯片老化测试座的生产和研发,公司自有品牌的ANDK老化测试座可以很好的满足客户对芯片做加速老化试验的需求,产品涵盖QFN、BGA、WLCSP、LGA等各类封装的芯片老化测试座。

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